基于单向探头对电子装置进行多维测试的方法和机器

摘要

本发明涉及一种用于测试电子装置的方法和机器，其中由单向测量探头(46)测量所发射的磁场，其特征在于：由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第一值(Bz1)并对其进行记录，然后通过绕着与所述轴ZZ’正交的轴XX’根据小于90°的角幅度相对枢转使所述探头(46)和所述电子装置彼此相对移动，同时针对轴ZZ’的每个位置(x，y)保持在同一距离d0处，由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第二值(Bz2)并对其进行记录，然后基于已经获得的第一值Bz1和第二值Bz2确定所述磁场沿着与所述轴ZZ’和XX’正交的轴YY’的分量By的值并对其进行记录。

主权项

一种用于测试电子装置的方法，其中单向测量探头(46)测量由所述电子装置(39)中至少一个电流流转发射的磁场，所述单向测量探头(46)能够提供表示所述磁场沿预定轴ZZ’的分量Bz的值的信号，所述预定轴ZZ’相对于所述探头是固定的，其中：‑将所述探头(46)放到所述电子装置的一个面的前方一距离d0处，为所述电子装置供应电能和预定输入信号，所述预定输入信号被施加到所述电子装置的输入端子，对于所述轴ZZ’相对于所述面的每个位置(x，y)，由所述探头(46)测量所述磁场沿所述轴ZZ’的分量Bz的第一值Bz1并对其进行记录，‑然后通过绕着与所述轴ZZ’正交的轴XX’根据小于90°的角幅度进行相对枢转使所述探头(46)和所述电子装置彼此相对移动，将所述探头(46)保持在所述电子装置的同一面的前方同一距离d0处，为所述电子装置供应电能和预定输入信号，对于所述轴ZZ’相对于所述面的每个位置(x，y)，由所述探头(46)测量所述磁场沿所述轴ZZ’的分量Bz的第二值Bz2并对其进行记录，‑然后基于已经获得的所述第一值Bz1和所述第二值Bz2，针对所述轴ZZ’的每个位置(x，y)，确定所述磁场沿着与所述轴ZZ’和XX’正交的轴YY’的分量By的值并对其进行记录。