一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法

摘要

一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法包括如下步骤：(1)确定失效物理模型及待萃取的模型参数；(2)获取产品几何和材料参数的均值和上下限，并采用工艺能力指数表征其不确定性；(3)根据产品几何和材料参数的均值估算失效物理模型的初始模型参数；(4)根据几何和材料参数的分布类型抽样获得其随机值；(5)结合Monte-Carlo仿真方法获得产品寿命的随机值；(6)根据寿命随机值得到产品寿命的理论分布函数；(7)采用残存比率法对试验失效数据进行处理得到产品寿命的经验分布函数；(8)利用K-S检验方法对上述两个寿命分布函数的拟合度进行检验；(9)对模型参数进行寻优萃取，直到获得拟合度最优的模型参数。

主权项

一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法，其特征在于：它包括如下步骤：(1)确定用于寿命评估的失效物理模型及待萃取的模型参数A；(2)获取电子产品几何参数和材料参数的均值(规范值)和上下限，并采用工艺能力指数Cpk表征其不确定性；(3)根据电子产品几何参数和材料参数的规范值(均值)估算给定失效物理模型的初始模型参数A0；(4)根据几何参数和材料参数服从的分布类型(如正态分布等)抽样获得几何参数和材料参数的随机值；(5)利用失效物理模型并结合Monte‑Carlo仿真方法获得电子产品寿命的随机值；(6)根据寿命随机值得到电子产品基于失效物理模型的寿命理论分布函数F(t)；(7)采用残存比率法对试验失效数据进行处理，得到电子产品基于有限试验失效数据的寿命经验分布函数Fn(t)；(8)利用Kolmogorov‑Smirnov(K‑S)检验方法对上述两个寿命分布函数的拟合度进行检验；(9)对模型参数Ai进行寻优萃取，直到获得拟合度最优的模型参数A*。