发明名称 | 可注入时域抖动的测试电路及相关测试方法 | ||
摘要 | 本发明提供一可注入时域抖动的测试电路及相关测试方法。该测试方法经由模拟方式选择适当的低通滤波器,该低通滤波器接收一待测电路的输出讯号以产生一具有时域抖动的测试讯号,再将该测试讯号输入该待测电路的接收端,进而进行所需的量测。本发明的测试电路及测试方法以简易的电路达到与昂贵的高速测试机台相同的时域抖动注入的效果,大幅节省了电子产品与研发及制造过程中所需负担的测试成本。 | ||
申请公布号 | CN1741427B | 申请公布日期 | 2011.06.22 |
申请号 | CN200510099529.4 | 申请日期 | 2005.09.13 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 徐鑫洲;林敏生 |
分类号 | H04B17/00(2006.01)I | 主分类号 | H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 蒲迈文;黄小临 |
主权项 | 一种可注入时域抖动的测试方法,其包含下列步骤:接收一待测电路的一输出讯号;仿真一测试电路的频率响应与时域响应;选择一测试电路耦接至该待测电路,其中该测试电路仿真的频率响应与时域响应接近于该待测电路的一设计规格;产生一测试讯号,其中该测试讯号由该测试电路通过处理该待测电路的该输出讯号产生,以及该测试讯号具有一时域抖动;以及输出该测试讯号至该待测电路的接收端。 | ||
地址 | 中国台湾台北县 |