发明名称 化学机械研磨修整轮
摘要
申请公布号 TWM405058 申请公布日期 2011.06.01
申请号 TW099217972 申请日期 2010.09.16
申请人 新日铁高新材料股份有限公司 发明人 木下俊哉
分类号 H01M10/42;H01M10/50 主分类号 H01M10/42
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种化学机械研磨修整轮,其系透过抵接于半导体基板用的研磨垫,对上述研磨垫进行修整,其特征为:具有抵接于上述研磨垫的抵接面,于包含上述抵接面的面内具有以一定曲率半径延伸成弧形的弧形部。如申请专利范围第1项所记载的化学机械研磨修整轮,其中,上述弧形部是形成为环状。如申请专利范围第2项所记载的化学机械研磨修整轮,其中,上述抵接面,具有朝上述弧形部半径方向延伸的沟槽部。如申请专利范围第3项所记载的化学机械研磨修整轮,其中,上述沟槽部,于上述弧形部圆周方向隔着45°间隔设置有复数个。如申请专利范围第1项所记载的化学机械研磨修整轮,其中,上述弧形部,经由将圆弧部复数配置在同一圆周上构成。如申请专利范围第5项所记载的化学机械研磨修整轮,其中,彼此邻接在上述弧形部圆周方向的上述圆弧部是形成分开不接触。如申请专利范围第1项至第6项任一项所记载的化学机械研磨修整轮,其中,于上述抵接面设有复数硬质磨粒。
地址 日本