发明名称 使用电磁波的检测方法以及检测装置
摘要 提供一种能够不管有无太赫兹波的频带的固有振动波谱都使用太赫兹波检测物质状态的变化的检测方法以及装置。检测装置具有保持物质8的待检物保持部;照射部件1、6;检测部件1、7;计算部件、评价部件。照射部件1、6在保持于待检物保持部上的物质8上照射太赫兹波。检测部件1、7检测从物质8透射或者反射来的太赫兹波。计算部件求得针对所照射的太赫兹波的物质8的性质的频率依赖性,算出物质8的性质的频率依赖性的拟合直线时的直线斜率或者直线斜率。评价部件对预先求得的基准状态的物质的性质的频率依赖性的直线斜率和用计算部件算出的物质8的直线斜率进行比较,评价物质状态的变化。
申请公布号 CN101196467B 申请公布日期 2011.05.25
申请号 CN200710196483.7 申请日期 2007.12.05
申请人 佳能株式会社;独立行政法人理化学研究所 发明人 尾内敏彦;笠井信太郎;米山春子;山下将嗣
分类号 G01N21/17(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N33/02(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 罗菊华
主权项 一种非疾病诊断目的的检测方法,是使用从0.1THz至10THz的频率范围中选择的电磁波检测物质状态变化的检测方法,其特征在于,具有:将物质配置在待检物保持部上的第1步骤;在上述物质上照射上述电磁波的第2步骤;检测从上述物质透射或者反射来的电磁波的第3步骤;从上述检测到的电磁波和上述照射的电磁波的信息中,求得针对上述照射的电磁波的上述物质的相位差的频率依赖性,算出上述物质的相位差的频率依赖性的直线拟合时的直线斜率或者直线斜率的第4步骤;和对预先求得的基准状态的上述物质的相位差的频率依赖性的直线斜率和在上述第4步骤中计算出的上述物质的直线斜率进行比较,评价上述物质从基准状态的状态变化水平的第5步骤;其中,求得上述物质的相位差的频率依赖性的直线斜率时的频率范围从0.2THz至2.5THz的范围中选择。
地址 日本东京
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