发明名称 存储装置测试系统的密封操作区域
摘要 一种存储装置测试系统(10),包括:一个或多个测试支架(100);以及一个或多个测试槽(500,500a,500b,540),由一个或多个测试支架容纳,每个测试槽均被配置为容纳或支撑承载用于测试的存储装置(600)的存储装置输送器(400)。存储装置测试系统还包括转运站(200),用于提供将测试的存储装置。一个或多个测试支架和转运站至少部分地限定一个操作区域(318)存储装置测试系统还可以包括自动化机器(300),设置在操作区域内并被配置为在转运站与一个或多个测试槽之间输送存储装置;以及盖子(320),至少部分地密封操作区域,从而至少部分地抑制在操作区域与测试支架的周围环境之间的空气交换。
申请公布号 CN102066960A 申请公布日期 2011.05.18
申请号 CN200980123142.4 申请日期 2009.04.17
申请人 泰拉丁公司 发明人 布莱恩·S·梅洛
分类号 G01R31/02(2006.01)I;G11B20/18(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 谷惠敏;穆德骏
主权项 一种存储装置测试系统(10),包括:一个或多个测试支架(100);一个或多个测试槽(500,500a,500b,540),由所述一个或多个测试支架容纳,每个测试槽均被配置为容纳和支撑承载用于测试的存储装置(600)的存储装置输送器(400);转运站(200),用于提供将测试的存储装置,其中,所述一个或多个测试支架和所述转运站至少部分地限定一个操作区域(318);自动化机器(300),设置在所述操作区域内并被配置为在所述转运站与所述一个或多个测试槽之间输送存储装置;以及盖子(320),至少部分地密封所述操作区域,从而至少部分地抑制在所述操作区域与所述测试支架的周围环境之间的空气交换。
地址 美国马萨诸塞州