| 发明名称 | 电子产品异常通断电的测试方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种电子产品异常通断电的测试方法，包括以下步骤：(1)通过单片机设置继电器的通电吸合时间和断电断开时间；(2)改变继电器的通电吸合时间；以及(3)改变继电器断电断开时间。本发明还提供一种电子产品异常通断电的测试装置。本发明使用单片机，采用扫频的方法，可以覆盖在设定范围内所有的可能出现的开关机频率点，且这个设定范围可以任意更改，这样就可以找到故障出现的频率点，并且本发明可以在找到故障出现的频率点后锁住该频率点，重复模拟故障现象。 | ||
| 申请公布号 | CN1877350B | 申请公布日期 | 2011.05.04 |
| 申请号 | CN200610060496.7 | 申请日期 | 2006.04.26 |
| 申请人 | 深圳创维-RGB电子有限公司 | 发明人 | 卓成钰;叶闯;吴沛 |
| 分类号 | G01R31/02(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人 | 张全文 |
| 主权项 | 一种电子产品异常通断电的测试装置，其特征在于：包括中央处理器(IC3)、输入电源、与所述中央处理器(IC3)连接的存储器(IC5)以及继电器，所述中央处理器(IC3)的输出脚(P3.4)连接射级跟随器(Q1)，并进而与反相器(Q4)相连，所述继电器与所述反相器(Q4)以及所述输入电源连接，所述输入电源一路依次经二极管D1和二极管D2整流、滤波电容C1滤波后由第一稳压器(IC1)稳压并输入所述中央处理器(IC3)的电源脚，所述输入电源另一路依次经二极管D3和二极管D4整流、滤波电容C3滤波后由第二稳压器(IC2)稳压并输入所述中央处理器(IC3)的检测关机脚(P2.6)；所述中央处理器(IC3)经射级跟随器和反相控制器控制所述继电器的通断进而控制所述输入电源间歇通断；所述滤波电容C1大于所述滤波电容C3。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区高新南一道创维大厦A13-16 | ||