| 主权项 |
一种太阳电池之多层PIN接面对波长响应曲线之量测系统，利用一个单色光源(monochrometer)，一个宽频光源，以测定太阳电池每一层PIN接面对波长响应曲线，至少包含：一组第一光源(optical system)，提供全光谱之光源；一个单波长光谱仪，将前述光源分光，以提供单色光；一个第二宽频光源，提供一定频宽之宽频光源；一组光缆，将单色光及宽频光源传送至太阳电池表面；一组电流表，测量太阳电池之光电流；一组电极，将太阳电池之光电流传送至前述电流表；一组电脑，控制前述单色光源之波长及记录前述电流表测得之电流；一个光圈，控制第一光源之通过量；一个启动器，受前述电脑之控制以控制前述光圈而控制前述第一光源之通过量，并启动前述电流表，及前述单波长光谱仪，改变其波长以供扫描；其中前述宽频光源以非待测PIN接面之饱和响应波长照射太阳电池，其饱和电流不变，再以单色光源扫描太阳电池，以测定待测PIN接面对波长之响应。如申请专利范围第1项之量测系统，其中该PIN接面为PN接面。一种太阳电池之多层PIN接面对波长响应曲线之方法，以多重光源测定太阳电池之多层PIN接面吸收系数，至少包含下列步骤：将太阳电池晶片置于测试位置，宽频光源以非待测PIN接面之饱和响应波长照射太阳电池，保持其饱和电流不变，使该非待测PIN接面为导通；以单色光源扫描太阳电池，以测定待测PIN接面对波长之响应电流；响应电流减去非待测PIN接面之饱和电流，即为待测PIN接面对波长之响应。如申请专利范围第3项之量测系统，其中该PIN接面改为PN接面。 |
