发明名称 |
一种低密度InAs量子点的分子束外延生长方法 |
摘要 |
本发明公开了一种低密度InAs量子点的分子束外延生长方法,包括:将GaAs衬底放在样品托上,并引入进样室进行烘烤;烘烤完毕,将GaAs衬底引入制备室,并对GaAs衬底进行除气处理;将除过气的GaAs衬底引入生长室,对GaAs衬底的加热器进行升温,在有As保护的情况下对GaAs衬底进行脱氧;将GaAs衬底的加热器温度降至生长温度,生长GaAs缓冲层,并掺杂Si;生长多对GaAs/AlGaAs分布式布拉格反射镜;降低生长温度,生长低密度量子点;生长InGaAs(Sb)盖层;生长耦合量子点拓展波长;生长掺杂GaAs层;制作上下电极。利用本发明,有效改善量子点发光效率,提高了收集效率以及实现了波长的调控。 |
申请公布号 |
CN102034909A |
申请公布日期 |
2011.04.27 |
申请号 |
CN200910235334.6 |
申请日期 |
2009.09.30 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
牛智川;倪海桥;王海莉;贺继方;朱岩;李密峰;王鹏飞;黄社松;熊永华 |
分类号 |
H01L33/02(2010.01)I;H01L33/08(2010.01)I;H01L33/10(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/02(2010.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
一种低密度InAs量子点的分子束外延生长方法,其特征在于,该方法包括:将GaAs衬底放在样品托上,并引入进样室进行烘烤;烘烤完毕后,将GaAs衬底引入制备室,并对GaAs衬底进行除气处理;将除过气的GaAs衬底引入生长室,并对GaAs衬底的加热器进行升温,在有As保护的情况下对GaAs衬底进行脱氧;将GaAs衬底的加热器温度降至生长温度,生长GaAs缓冲层,并掺杂Si;生长多对GaAs/AlGaAs分布式布拉格反射镜;降低生长温度,生长低密度量子点;生长InGaAs盖层;生长耦合点拓展波长生长掺杂GaAs层;制作上下电极,完成电致单光子器件的制备。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |