发明名称 |
使用掺杂剂的离子迁移谱仪(IMS)的检测系统及检测方法 |
摘要 |
本发明公开一种使用掺杂剂的离子迁移谱仪(IMS)检测方法,所述离子迁移谱仪包括进样装置、迁移管及与其相连的气路系统,所述气路系统包括泵和过滤装置以及置于所述迁移管上的进气口和出气口以提供用作迁移气流和样品载气的清洁气体,所述检测方法包括:提供用于采集样品的采样载体;将掺杂剂与采样载体结合;用结合有掺杂剂的采样载体采集样品;以及将采集样品后的采样载体导入到离子迁移谱仪的进样口,以实施离子迁移谱检测。该方法不需要设置单独的掺杂剂气路,因此其实施上更加简单;同时可以更容易和更准确地控制检测所需掺杂剂的量。 |
申请公布号 |
CN102033100A |
申请公布日期 |
2011.04.27 |
申请号 |
CN200910093179.9 |
申请日期 |
2009.09.25 |
申请人 |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人 |
彭华;李徽;张仲夏 |
分类号 |
G01N27/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/64(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王新华 |
主权项 |
一种使用掺杂剂的离子迁移谱仪(IMS)检测方法,所述离子迁移谱仪包括具有进样口的迁移管和与迁移管连通的气路系统,所述气路系统包括泵和过滤装置以及置于所述迁移管上的进气口和出气口以提供用作迁移气流和样品载气的清洁气体,所述检测方法包括:提供用于采集样品的采样载体;将掺杂剂与采样载体结合;用结合有掺杂剂的采样载体采集样品;以及将采集样品后的采样载体导入到离子迁移谱仪的进样口,以实施离子迁移谱检测。 |
地址 |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |