| 发明名称 | 多b值弥散张量成像采样方法 | ||
| 摘要 | 一种多b值弥散张量成像采样方法，包括以下步骤：在第一b值下单次扫描整个视野，采样获得第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度；根据第一b值下单次扫描信噪比及指定的第一b值下多次扫描信噪比计算得到第一b值下多次扫描次数；根据第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度计算得到第二b值下单次扫描信噪比；根据第二b值下单次扫描信噪比及指定的第二b值下多次扫描信噪比计算得到第二b值下多次扫描次数。上述多b值弥散张量成像采样方法，通过对第一b值实施单次预扫描及不同b值的信噪比遵循的关系，便可以自适应的选定各个b值实际需要的重复扫描次数，从而降低了总的采样次数，大大降低了采样的时间，提高了弥散张量成像的速度。 | ||
| 申请公布号 | CN102008308A | 申请公布日期 | 2011.04.13 |
| 申请号 | CN201010612331.2 | 申请日期 | 2010.12.29 |
| 申请人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明人 | 刘伟;吴垠;刘新;郑海荣;邹超;戴睿彬;潘艳丽;张娜;谢国喜 |
| 分类号 | A61B5/055(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/055(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 吴平 |
| 主权项 | 一种多b值弥散张量成像采样方法，包括以下步骤：在第一b值下单次扫描整个视野，采样获得第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度；根据所述第一b值下单次扫描信噪比及指定的第一b值下多次扫描信噪比计算得到第一b值下多次扫描次数；根据所述第一b值下单次扫描信噪比及所述第一b值下单次扫描信号强度计算得到第二b值下单次扫描信噪比；根据所述第二b值下单次扫描信噪比及指定的第二b值下多次扫描信噪比计算得到第二b值下多次扫描次数。 | ||
| 地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 | ||