发明名称 |
超声波探伤方法和装置 |
摘要 |
本发明提供一种超声波探伤方法和装置,超声波探伤装置100包括沿与被检查件M的轧制方向正交的方向排列有多个振子11而成的线性排列型超声波探头10和信号处理部件2。信号处理部件实行以下(1)~(6):(1)对于被检查件的各截面生成探伤信号的合成孔径图像;(2)生成振子的排列方向上的探伤信号的最大值分布;(3)基于上述最大值分布,计算各截面中的缺陷的宽度;(4)根据被检查件的多个截面中的上述最大值分布,生成轧制方向上的探伤信号的最大值分布;(5)基于轧制方向上的探伤信号的最大值分布计算缺陷的长度;(6)基于计算出的缺陷的长度和计算出的各截面的缺陷的宽度,计算缺陷的面积。 |
申请公布号 |
CN102016566A |
申请公布日期 |
2011.04.13 |
申请号 |
CN200980111111.7 |
申请日期 |
2009.03.24 |
申请人 |
住友金属工业株式会社 |
发明人 |
上田佳央;山野正树;池田正美 |
分类号 |
G01N29/44(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N29/44(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;张会华 |
主权项 |
一种超声波探伤方法,其特征在于,包括:将沿与被检查件的轧制方向正交的方向排列有多个振子而成的线性排列型超声波探头与被检查件相对地配置的步骤;使上述超声波探头沿被检查件的轧制方向相对移动的步骤;基于从上述超声波探头输出的探伤信号,计算存在于被检查件中的缺陷的面积的步骤,计算上述缺陷的面积的步骤包括:第1步骤,通过对从上述超声波探头输出的探伤信号实施合成孔径处理,而对于与上述超声波探头相对的方向上的被检查件的各截面,生成探伤信号的合成孔径图像,第2步骤,对上述合成孔径图像抽取上述相对的方向上的探伤信号的最大值,并生成上述振子的排列方向上的探伤信号的最大值分布,第3步骤,基于上述振子的排列方向上的探伤信号的最大值分布,计算被检查件的各截面中的上述缺陷的宽度方向的两端部,利用该计算出的两端部间的距离,计算被检查件的各截面中的上述缺陷的宽度,第4步骤,根据被检查件的多个截面中的上述振子的排列方向上的探伤信号的最大值分布,生成上述轧制方向上的探伤信号的最大值分布,第5步骤,基于由上述第4步骤而生成的上述轧制方向上的探伤信号的最大值分布,计算上述缺陷的长度,第6步骤,基于由上述第5步骤计算出的上述缺陷的长度和由上述第3步骤计算出的各截面中的上述缺陷的宽度,计算上述缺陷的面积。 |
地址 |
日本大阪府 |