发明名称 | 制造半导体器件的方法及半导体器件 | ||
摘要 | 本发明公开了一种修复受损的低k介电材料的方法。常用于生产半导体器件的基于等离子体的方法通常会损坏含碳的低k介电材料。受损的介电材料暴露在水分中时可能形成硅醇基团。在优选的实施方案中,两步法将硅醇转化为合适的有机基团。第一步包括用卤化剂将硅醇转化为卤化硅。第二步包括利用衍生剂,优选利用有机金属化合物用合适的有机基团取代卤化物。在一个优选的实施方案中,卤化剂包括亚硫酰二氯,有机金属化合物包括烷基锂,优选甲基锂。在另一个优选的实施方案中,有机金属化合物包括格氏试剂。本申请公开的实施方案有利于生产商通过选择性加入有机基团对低k介电材料的密度、极化和离子化性能进行设计。 | ||
申请公布号 | CN1741254B | 申请公布日期 | 2011.04.06 |
申请号 | CN200510097703.1 | 申请日期 | 2005.08.26 |
申请人 | 印芬龙科技股份有限公司 | 发明人 | F·韦伯 |
分类号 | H01L21/31(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/31(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 朱进桂 |
主权项 | 一种制造半导体器件的方法,其包括:在基板上形成有源器件;在有源器件上沉积含碳的低k绝缘体;将绝缘体暴露在等离子体中,其中由等离子体相关的损坏在绝缘体中形成硅醇;用卤化剂与绝缘体中的硅醇反应,形成卤化硅;和使用衍生剂用卤化硅进行衍生反应,所述的衍生剂选自由以下化合物组成的组:有机金属化合物、甲硅烷基化剂和对应于通式RARBC=CHRC的化合物,其中RA‑C独立地为氢或烷基。 | ||
地址 | 德国慕尼黑 |