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发明名称 Apparatus for both critical current and defects measurement of HTS conductor
摘要
申请公布号 KR101025010(B1) 申请公布日期 2011.03.25
申请号 KR20080091638 申请日期 2008.09.18
申请人 发明人
分类号 H01B12/00;H01B12/16 主分类号 H01B12/00
代理机构 代理人
主权项
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