| 主权项 |
一种调整一积体电路之低杂讯精细频率特性的方法，包括下列步骤：接收该积体电路之一操作条件之测量值；利用该操作条件之测量值设定一经脉冲宽度调变信号的工作周期；以及藉由间歇地切换一开关元件开启和关闭，使用该经脉冲宽度调变信号改变一电容值。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该操作条件是温度。如申请专利范围第1项所述之方法，更包括下列步骤：利用该经脉冲宽度调变信号控制该开关元件之阻抗来改变该电容值。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该电容值是利用该经脉冲宽度调变信号驱动一电晶体的闸极来改变的。如申请专利范围第4项所述之方法，其中该经脉冲宽度调变信号是利用该操作条件之测量值而取得一储存中条目来产生的。如申请专利范围第4项所述之方法，其中该积体电路包括一振荡器，且该频率特性即为该振荡器的振荡频率。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该操作条件之测量值是与温度成比例的电压。如申请专利范围第5项所述之方法，更包括下列步骤：透过产生一与温度产生比例的电压产生该操作条件之测量值；转换该电压为一数位信号；以及利用该数位信号取得该储存中条目。如申请专利范围第8项所述之方法，其中该储存中条目之决定系以使该振荡器的频率在温度变化时保持恒定为原则。一种积体电路，包括：一控制信号产生器，具有一响应该积体电路之一操作条件之测量值的输入，并被配置用来提供一控制信号以响应该操作条件之测量值；一脉冲宽度调变电路，具有一响应该控制信号的输入，并具有一输出被配置用来提供一经脉冲宽度调变信号以响应该控制信号；以及一开关元件，藉由间歇地切换开启和关闭，可操作用来改变一电容元件之一电容值以响应该经脉冲宽度调变信号。如申请专利范围第10项所述之积体电路，其中该操作条件是温度。如申请专利范围第11项所述之积体电路，其中该积体电路包括一振荡器。如申请专利范围第11项所述之积体电路，其中该积体电路包括一振荡器，且该振荡器之一振荡频率系至少部份由该电容及该经脉冲宽度调变信号的工作周期所决定。如申请专利范围第11项所述之积体电路，其中该控制信号产生器包括一查找表。一种积体电路，包括：一记忆体，包括复数个条目，且该复数个条目的每一者皆对应于该积体电路之一操作条件之测量值；一脉冲宽度调变器电路，被配置以产生一经脉冲宽度调变信号，该经脉冲宽度调变信号具有一工作周期，且该工作周期系由所述记忆体中复数个条目之一者所决定；一开关元件，藉由间歇地切换开启和关闭，可操作用来改变一电容值，该开关元件响应该经脉冲宽度调变信号且与一电容元件串联而连接。如申请专利范围第15项所述之积体电路，其中该操作条件之测量值是与温度成比例的电压。如申请专利范围第15项所述之积体电路，其中该积体电路包括一振荡器，且该频率特性是该振荡器的振荡频率。一种振荡器，包括：一条件测量电路，被配置以提供一与温度成比例的类比电压；一类比至数位转换器，被配置以将该类比电压转换为一数位信号；一查找表，根据该类比至数位转换器输出的数位信号作动；一脉冲宽度调变电路，被配置为提供具有一工作周期的一经脉冲宽度调变的信号，其中该工作周期系由该查找表中的条目控制；一电晶体，藉由间歇地切换开启和关闭，可操作用来改变一电容器之一电容值，该电晶体响应该经脉冲宽度调变信号且与该电容器串联而连接。如申请专利范围第18项所述之振荡器，其中该查找表包括复数个条目，且该等条目之决定系以使该振荡器的频率在温度变化时保持恒定为原则。如申请专利范围第18项所述之振荡器，其中该条件测量电路是与绝对温度成比例的电压产生器。 |
