发明名称 |
二维位置图校正方法及放射线检测装置 |
摘要 |
本发明提供一种二维位置图校正方法及放射线检测装置。放射线检测装置的计算处理部件进行根据信号强度的峰值描绘边界并根据该边界分离各个位置、用峰值的空间周期性来判定因多个峰值相连而导致分离失败的峰值的个数的计算处理。如果因多个峰值相连而导致上述的分离失败的话,则因为用峰值的空间周期性来判定该失败的峰值的个数,所以可以通过用峰值的空间周期性来判定失败的峰值的个数,可以简便地划定边界。其结果,即能够简便地辨别入射位置,也能够简便地特定放射线的检测位置。 |
申请公布号 |
CN101978287A |
申请公布日期 |
2011.02.16 |
申请号 |
CN200880128106.2 |
申请日期 |
2008.05.19 |
申请人 |
株式会社岛津制作所 |
发明人 |
山田贤志;桥爪宣弥;佐藤允信;北村圭司 |
分类号 |
G01T1/161(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/161(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
李贵亮 |
主权项 |
一种二维位置图校正方法,校正在由配置成一维、二维或者三维的多个闪烁体元件和与这些闪烁体元件光学耦合的光敏元件构成的放射线检测器进行检测时用到的、使由所述光敏元件得到的信号强度与被入射到所述闪烁体元件的所述放射线的入射位置相对应地呈二维状表示的二维位置图,其特征在于,具备:峰值分离工序,根据所述信号强度的峰值描绘边界,并根据该边界分离各个位置;和个数判定工序,用所述峰值的空间周期性来判定因多个所述峰值相连而导致在所述峰值分离工序中分离失败的峰值的个数。 |
地址 |
日本京都府 |