发明名称 一种微控制器系统器件的检测装置及方法
摘要 本发明公开了一种微控制器系统器件的检测装置及方法,检测装置包括试验电路板部分、电参数测试部分、功能测试部分,电参数测试部分包括供电控制、与供电控制输出连接的电流检测板;试验电路板部分包括一个待测CPU、与待测CPU双向信号连接的待测存储器、两路与待测CPU输出连接的待测总线接口、一路与待测CPU输出连接的422总线,待测CPU还连接有一个供电及看门狗电路和一个系统起振电路,构成一套测试系统;电流检测板的输出连接供电及看门狗电路,并同时连接功能测试部分;所述功能测试部分为一个功能测试设备,其输入连接422总线的输出、两路待测总线接口的输出。
申请公布号 CN101968652A 申请公布日期 2011.02.09
申请号 CN201010232206.9 申请日期 2010.07.21
申请人 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 发明人 张莹;邱素蓉;同志宏;刘曦;张天强;李广平;刘琦;海涛
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 朱海临
主权项 一种微控制器系统器件的检测装置,其特征在于,包括试验电路板部分、电参数测试部分、功能测试部分,电参数测试部分包括供电控制、与供电控制输出连接的电流检测板;试验电路板部分包括一个待测CPU、与待测CPU双向信号连接的待测存储器、两路与待测CPU输出连接的待测总线接口、一路与待测CPU输出连接的422总线,所述待测CPU还连接有一个供电及看门狗电路和一个系统起振电路,构成一套测试系统;电流检测板的输出连接供电及看门狗电路,并同时连接功能测试部分;所述功能测试部分为一个功能测试设备,其输入连接422总线的输出、两路待测总线接口的输出。
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