| 发明名称 | 用于测试密码电路的方法、能够被测试的保密密码电路和该电路的接线方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于测试密码电路的方法。本发明还涉及一种能够被测试的密码电路，该密码电路包括寄存器和逻辑门(211，212，213，214)。根据本发明，测试包括执行电路寄存器的差分功耗分析(DPA)。在被保密并包括与工作在互补逻辑的第二半电路(212，213)联合的第一半电路(211，214)的密码电路中，第一半电路的电源(Vdd1，23，25)与第二半电路的电源(Vdd2，24)分离，在每个半电路上并行执行差分功耗分析，在测试之后两个电源被组合成同一个电源。 | ||
| 申请公布号 | CN101971183A | 申请公布日期 | 2011.02.09 |
| 申请号 | CN200980105835.0 | 申请日期 | 2009.02.11 |
| 申请人 | 电信学院集团-国立高等电信学校 | 发明人 | S·吉耶;J-L·当热 |
| 分类号 | G06F21/00(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I | 主分类号 | G06F21/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人 | 程伟;靳强 |
| 主权项 | 一种用于测试密码电路的方法，所述密码电路结合有秘密并包括寄存器(1，2)以及通过一组节点相互连接的逻辑门(10，211，212，213，214)，其特征在于，所述方法执行差分功耗分析(DPA)，包括：采集阶段，根据电路输入处的测试信号向量在节点处采集功耗轨迹(11)的测量；分析阶段，基于功耗轨迹的测量来分析节点(12)的活动率，当节点的活动遵照活动预测模板时，认为节点正确工作。 | ||
| 地址 | 法国巴黎 | ||