发明名称 Normal- und Lateralkraft- sowie Elastizitäts- und Spitzenradien-Standards bei der Rasterkraftmikroskopie
摘要 Ein großes Problem bei der Rasterkraftmikroskopie und auch Rastersondenmikroskopien allgemein besteht darin, die tatsächlich wirkenden Abtastkräfte bzw. Abtastdrücke zu standardisieren bzw. kalibrieren. Damit eng verbunden ist die sehr problematische genaue Charakterisierung der Abtastspitzen, also der "Sonden", auf der Längenskala der zu erwartenden Auflösung. Hier soll nun diese Standardisierung nicht wie üblich durch ein unabhängiges Verfahren, wie etwa mittels Elektronenmikroskopie, versucht werden, da fast jedes Mikroskopieverfahren Veränderungen an diesen feinen Abtastspitzen vornimmt, sondern es werden Messverfahren vorgestellt, die nur auf der Rasterkraftmikroskopie alleine beruhen und daher "in situ" parallel angewandt werden können. Der Preis hierfür ist "nur" eine aufwendigere Probenpräparation der zu untersuchenden Objekte auf eben den vorgeschlagenen Kraft- und Spitzenradius-Standardisierungs-Testproben. Als Auflagedrucknormal soll der Phasenübergang eines CaCOKristalls von der Calcit-Struktur zur Aragonit-Struktur dienen. Eine ähnliche Alternative hierfür sind die druckinduzierten Lösungsprozesse auf Calcit-Kristallen, also ein beschleunigtes Wandern von monoatomaren Stufen im AFM-Bild im Vergleich zu den von der Lösungsstatistik (Dissoziationskonstante) her zu erwartenden Wanderungsgeschwindigkeiten dieser Kristallstufen. Um vom hieraus erhaltenen Auflagedruck-Normal auf ein Auflagekraft-Normal schließen zu können, muss der Spitzenradius (und damit ...
申请公布号 DE102010025254(A1) 申请公布日期 2011.02.03
申请号 DE20101025254 申请日期 2010.06.24
申请人 OHNESORGE, FRANK 发明人 OHNESORGE, FRANK
分类号 G01Q40/00;G01Q40/02 主分类号 G01Q40/00
代理机构 代理人
主权项
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