发明名称 基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法
摘要 本发明公开了一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法,入射激光通过第一分束镜分成两束,一束为监测光,由第一探测器记录,另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上,被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路,一路直接由第二探测器记录,另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器。本发明开发了一种新的测量介质表面的光学非线性的方法,实现了对非线性折射和吸收系数的测量,可广泛应用于介质界面非线性光学以及薄膜非线性光学测量的研究领域。
申请公布号 CN101609001B 申请公布日期 2011.02.02
申请号 CN200910182228.6 申请日期 2009.07.01
申请人 苏州大学 发明人 宋瑛林;税敏;李常伟;金肖;杨俊义
分类号 G01N21/17(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 陶海锋
主权项 一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法,其特征在于:入射激光通过第一分束镜分成两束,一束为监测光,由第一探测器记录,另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上,被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路,一路直接由第二探测器记录,另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器;其测量步骤为:(1)在远离焦点的位置放上待测样品,用第一探测器、第二探测器、第三探测器收集脉冲光能量,分别为监测光能量、开孔反射能量和透过小孔能量,由此计算出开孔反射能量、透过小孔能量分别与监测光能量的比值;(2)在焦平面位置放上待测样品,用第一探测器、第二探测器、第三探测器收集脉冲光能量,分别为监测光能量、开孔反射能量和透过小孔能量,并计算出开孔反射能量、透过小孔能量分别与监测光能量的比值;(3)将步骤(2)中得出的开孔反射能量与监测光能量的比值与步骤(1)中得出的开孔反射能量与监测光能量的比值相除,得到待测样品归一化的非线性开孔反射率;将步骤(2)中得出的透过小孔能量与监测光能量的比值与步骤(1)中得出的透过小孔能量与监测光能量的比值相除,得到待测样品归一化的非线性闭孔反射率;对这两个归一化的非线性反射率进行理论拟合得到非线性折射系数和非线性吸收系数。
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