发明名称 回路基板試験機の回転試験装置
摘要 <p>【課題】ミラーボードに欠陥があるか否かを有効に試験し、製品の品質を向上させる回路基板試験機の回転試験装置を提供する。【解決手段】回路基板試験機の回転試験装置は、台座1の上に配置され、回転機構2及び少なくとも1つの回路基板挟持台3を備える。回転機構2は、動力源21を有し、動力源21は、従動リング23を有し、従動リング23には、回転盤25が固設される回転ベース24が固設される。動力源21は、主動リング211を有し、従動リング23と主動リング211の間に駆動部材22が配置される。回路基板挟持台3は、回路基板を挟持する可動アーム31及び伝動ユニット32を有する。回転機構2により、試験作業の効率が上がり、ミラーボードに欠陥があるか否かを有効に試験し、製品の品質を向上することができ、また欠陥品が後続工程に悪影響を及ぼして損失を招くのを防止することができる。【選択図】図2</p>
申请公布号 JP3165540(U) 申请公布日期 2011.01.27
申请号 JP20100007360U 申请日期 2010.11.08
申请人 ウー、マウ−シャン 发明人 ウー、マウ−シャン
分类号 H05K3/00 主分类号 H05K3/00
代理机构 代理人
主权项
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