发明名称 一种光纤位移测量系统和测量方法
摘要 本发明提供了一种光纤位移测量系统和测量方法,其中的测量系统具体包括:光纤光强调制模块,包括:光源、分束镜、透镜组、发射光纤和接收光纤;位移传感模块,包括探测头;信号检测与控制模块,包括反馈探测板、接收探测板和信号处理板;光源输出的光束经分束镜分成两路:第一路光束经反馈探测板传输至信号处理板,由信号处理板根据检测得到的第一路光束的输出功率变化,对光源进行反馈电压控制;第二路光束经透镜组耦合至发射光纤;探测头得到待测物体位移变化的输出位移,由输出位移对发射光纤的输出光束进行光强调制;调制后光束由信号处理板处理得到位移测量结果。本发明结构简单、成本低,且可以实现灵敏度高、稳定性高的光纤位移测量。
申请公布号 CN101957179A 申请公布日期 2011.01.26
申请号 CN201010265743.3 申请日期 2010.08.27
申请人 清华大学 发明人 李玉和;胡小根
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人 苏培华
主权项 一种光纤位移测量系统,其特征在于,包括:光纤光强调制模块(100),包括:光源(11)、分束镜(12)、透镜组(13)、发射光纤(14)和接收光纤(15);位移传感模块(200),包括探测头(210);及信号检测与控制模块(300),包括反馈探测板(31)、接收探测板(32)和信号处理板(33);其中,光源(11)输出的光束经分束镜(12)分成两路:第一路光束经反馈探测板(31)传输至信号处理板(33),由信号处理板(33)根据检测得到的第一路光束的输出功率变化,对光源(11)进行反馈电压控制;第二路光束经透镜组(13)耦合至发射光纤(14);当待测物体位移变化时,探测头(210)依据自身位移传动比得到所述位移变化的输出位移,由所述输出位移对发射光纤(14)的输出光束进行光强调制;所述调制后的输出光束经接收光纤(15)和接收探测板(32),传输至信号处理板(33),由信号处理板(33)处理得到位移测量结果。
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