发明名称 信息记录介质和信息记录装置
摘要 本发明提供一种信息记录介质,可以通过激光进行数据记录,具有相互叠层的n层(n为3以上的整数)信息记录层。所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区,在从距离所述激光入射面最远的一侧,对所述n层信息记录层进行列举的情况下,第i(i是满足2≤i≤n-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第i+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差,大于第j(j是满足1≤j≤i-1的整数)信息记录层的测试记录区以及第j+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差。
申请公布号 CN101960520A 申请公布日期 2011.01.26
申请号 CN200980107292.6 申请日期 2009.08.06
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 东海林卫;伊藤清贵
分类号 G11B7/0045(2006.01)I;G11B7/007(2006.01)I;G11B7/125(2006.01)I 主分类号 G11B7/0045(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汪惠民
主权项 一种信息记录介质,能通过激光进行数据记录,具有相互叠层的n层信息记录层,其中n为3以上的整数,其特征在于,所述n层信息记录层分别具有用来决定所述激光的记录功率的测试记录区,当从距离所述激光入射面最远的一侧,对所述n层信息记录层进行列举时,第i信息记录层的测试记录区以及第i+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差,大于第j信息记录层的测试记录区以及第j+1信息记录层的测试记录区之中、配置在内周侧的测试记录区的外周端部的半径位置与配置在外周侧的测试记录区的内周端部的半径位置之间的半径位置差,其中,i是满足2≤i≤n‑1的整数,j是满足1≤j≤i‑1的整数。
地址 日本大阪府