发明名称 半导体基板、半导体装置、及半导体装置的制造方法
摘要 以实用且简单的手法,形成良好的3-5族化合物半导体与氧化层的界面。本发明公开了一种半导体基板,具有:晶格匹配或准晶格匹配于InP且不包含砷的3-5族化合物的第1半导体层;以及,邻接于所述第1半导体层而形成的且晶格匹配或准晶格匹配于InP的3-5族化合物的能够相对于所述笫1半导体层选择性的氧化的第2半导体层。另外,公开一种半导体装置,具有:晶格匹配或准晶格匹配于InP且不包含砷的3-5族化合物的第1半导体层;将邻接于所述第1半导体层而形成且晶格匹配或准晶格匹配于InP的3-5族化合物的第2半导体层的至少一部分相对于所述第1半导体层进行选择性的氧化而形成的氧化层;以及控制电极,对形成于所述第1半导体层的通道施加电场。
申请公布号 CN101960605A 申请公布日期 2011.01.26
申请号 CN200980107412.2 申请日期 2009.03.26
申请人 国立大学法人东京大学;住友化学株式会社 发明人 竹中充;高木信一;秦雅彦;市川磨
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/338(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L29/812(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 朱丹
主权项 一种半导体基板,具有:晶格匹配或准晶格匹配于InP,且不包含砷的3‑5族化合物的第1半导体层;以及邻接于所述第1半导体层而形成的、晶格匹配或准晶格匹配于InP的3‑5族化合物的、能够相对于所述第1半导体层选择性的氧化的第2半导体层。
地址 日本国东京都