发明名称 |
半导体基板、半导体装置、及半导体装置的制造方法 |
摘要 |
以实用且简单的手法,形成良好的3-5族化合物半导体与氧化层的界面。本发明公开了一种半导体基板,具有:晶格匹配或准晶格匹配于InP且不包含砷的3-5族化合物的第1半导体层;以及,邻接于所述第1半导体层而形成的且晶格匹配或准晶格匹配于InP的3-5族化合物的能够相对于所述笫1半导体层选择性的氧化的第2半导体层。另外,公开一种半导体装置,具有:晶格匹配或准晶格匹配于InP且不包含砷的3-5族化合物的第1半导体层;将邻接于所述第1半导体层而形成且晶格匹配或准晶格匹配于InP的3-5族化合物的第2半导体层的至少一部分相对于所述第1半导体层进行选择性的氧化而形成的氧化层;以及控制电极,对形成于所述第1半导体层的通道施加电场。 |
申请公布号 |
CN101960605A |
申请公布日期 |
2011.01.26 |
申请号 |
CN200980107412.2 |
申请日期 |
2009.03.26 |
申请人 |
国立大学法人东京大学;住友化学株式会社 |
发明人 |
竹中充;高木信一;秦雅彦;市川磨 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/338(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L29/812(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
朱丹 |
主权项 |
一种半导体基板,具有:晶格匹配或准晶格匹配于InP,且不包含砷的3‑5族化合物的第1半导体层;以及邻接于所述第1半导体层而形成的、晶格匹配或准晶格匹配于InP的3‑5族化合物的、能够相对于所述第1半导体层选择性的氧化的第2半导体层。 |
地址 |
日本国东京都 |