| 发明名称 | 用于测定织构表面的属性的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测定织构表面的属性的方法，包括以下步骤：照射射线到被研究的所述表面(10)；通过检测器装置(4)检测至少部分照射到所述表面(10)和由所述表面(10)反射的射线，检测器装置(4)允许对照到它的射线进行定位评价；从检测的射线测定第一特征值(P)，其中，所述第一特征值(P)是所述表面(10)的织构的特征；从检测的射线测定第二特征值(ΔE)，其中，所述第二特征值(ΔE)是所述表面(10)的附加光学属性的特征；在所述第一特征值(P)和所述第二特征值(ΔE)的基础上测定结果值(ΔI)。 | ||
| 申请公布号 | CN101957188A | 申请公布日期 | 2011.01.26 |
| 申请号 | CN201010231065.9 | 申请日期 | 2010.07.08 |
| 申请人 | 毕克-加特纳有限责任公司 | 发明人 | 彼得·施瓦茨;乌韦·斯珀林 |
| 分类号 | G01B11/30(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I;G01J1/10(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人 | 高占元 |
| 主权项 | 一种测定织构表面的属性的方法，其特征在于，包括以下步骤：照射射线到被研究的所述表面(10)；通过检测器装置(4)检测至少部分照射到所述表面(10)和由所述表面(10)反射的射线，所述检测器装置(4)允许对照到它的射线进行定位评价；从检测的射线测定第一特征值(P)，其中，所述第一特征值(P)是所述表面(10)的织构的特征；从检测的射线测定第二特征值(ΔE)，其中，所述第二特征值(ΔE)是所述表面(10)的附加光学属性的特征；在所述第一特征值(P)和所述第二特征值(ΔE)的基础上测定结果值(ΔI)。 | ||
| 地址 | 德国盖雷茨里德82538劳齐茨大街8号 | ||