发明名称 | 一种检测图像传感器晶片中像素缺陷的装置和方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种图像传感器检测装置,其包括电子检测系统和主处理器,其中,电子检测系统具有照亮图像传感器器晶片的光源,以产生像素数据;主处理器用于接收像素数据。与电子检测系统相连的接口卡具有可编程的处理器,以将像素数据进行处理而产生处理过的像素数据,该处理过的像素数据传送至主处理器,与未处理过的像素一起由主处理器进行分析,从而检测图像传感器晶片中的像素缺陷。 | ||
申请公布号 | CN101952949A | 申请公布日期 | 2011.01.19 |
申请号 | CN200880125704.4 | 申请日期 | 2008.11.21 |
申请人 | 豪威科技有限公司 | 发明人 | 庄家伦;吴智慧;岳约翰 |
分类号 | H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人 | 戴建波 |
主权项 | 一种图像传感器检测装置,其包括:电子检测系统,其包括:用于照射图像传感器晶片以产生像素数据的光源;及用于接收所述像素数据的主处理器;及连接至所述电子检测系统的接口卡,其包括用于处理所述像素数据以产生处理过的数据的可编程的处理器,所述处理过的数据传送至所述主处理器,与所述像素数据一起通过所述主处理器进行分析,以检测所述图像传感器晶片中的像素缺陷。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |