发明名称 生産ライン監視装置
摘要 生産不良の原因を高精度に特定するとともに、分析データのデータ量および演算量を低減してリアルタイム処理が可能な生産ライン監視装置を提供する。本発明の生産ライン監視装置(6)は、生産ライン(1)における生産不良の兆候を検出する不良兆候検出部(61)と、生産不良の原因を特定する不良原因特定部(62)と、を備える。不良兆候検出部(61)は、製品における位置を特定するリファレンスREF1〜REF3毎に検査装置(5)によって測定された測定情報を収集して、リファレンスREF1〜REF3における測定情報の経時変化から生産不良の兆候を検出する。不良原因特定部(62)は、不良兆候検出部(61)が生産不良の兆候を検出した際のリファレンスREF2に関係する生産情報に基づいて層別分析を行い、当該分析結果から生産不良の原因を特定する。
申请公布号 JPWO2014049872(A1) 申请公布日期 2016.08.22
申请号 JP20140538065 申请日期 2012.09.28
申请人 富士機械製造株式会社 发明人 中山 大輔
分类号 G05B19/418;H05K3/34;H05K13/04;H05K13/08 主分类号 G05B19/418
代理机构 代理人
主权项
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