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发明名称 Test apparatus for training RFID device
摘要
申请公布号 KR200451721(Y1) 申请公布日期 2011.01.07
申请号 KR20080013575U 申请日期 2008.10.10
申请人 发明人
分类号 H04B5/02;G06K17/00;H04B5/00 主分类号 H04B5/02
代理机构 代理人
主权项
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