发明名称 |
光学断层影像扫描方法及其装置 |
摘要 |
一种光学断层影像扫描方法,适用于测量一介质,并包含以下步骤:(A)提供双频率相互关联光子对低同调性光束,且所述光束间的光程差小于所述光束的同调长度,(B)将所述光束聚焦于该介质中的不同深度位置,则所述光束被该介质反射后而成为信号光束,(C)由一包括一透镜及一位于该透镜的焦点上的针孔的信号处理单元分析被该介质反射后的所述信号光束,以获得该介质的断层影像。 |
申请公布号 |
CN101049232B |
申请公布日期 |
2010.12.29 |
申请号 |
CN200610074677.5 |
申请日期 |
2006.04.07 |
申请人 |
周晟 |
发明人 |
周晟;郭文娟 |
分类号 |
A61B5/00(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
夏青 |
主权项 |
一种光学断层影像扫描方法,适用于测量介质,其特征在于:该方法包含以下步骤:A、提供双频率相互关联光子对低同调性的二光束,且所述光束间的光程差小于光源的同调长度,而其中一光束由一振动的反射镜产生频率变化;B、将所述光束以光学共同路径聚焦于该介质中的不同深度位置,则所述光束被该介质反射后而成为外差干涉的信号光束,而能降低散射效应、色散差与像差以提高断层影像品质;及C、由一信号处理单元分析被该介质反射后的所述信号光束,以获得该介质的高空间分辨率断层影像。 |
地址 |
中国台湾台北市 |