发明名称 | 微处理器及其所适用的测试方法 | ||
摘要 | 一种微处理器及其所适用的测试方法。该微处理器包括:多个第一保险丝,根据一预定值被选择性地熔断,其中上述预定值用以供上述微处理器的电路以控制上述微处理器的运作;以及多个第二保险丝,根据错误侦测信息被选择性地熔断,其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误,该错误指示上述微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值,其中上述微处理器响应一第一使用者程序指令,而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误。 | ||
申请公布号 | CN101930391A | 申请公布日期 | 2010.12.29 |
申请号 | CN201010243791.2 | 申请日期 | 2010.07.30 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | G·葛兰·亨利;泰瑞·派克斯 |
分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 钱大勇 |
主权项 | 一种微处理器,包括:多个第一保险丝,根据一预定值被选择性地熔断,其中上述预定值用以供上述微处理器的电路以控制上述微处理器的运作;以及多个第二保险丝,根据错误侦测信息被选择性地熔断,其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误,该错误指示上述微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值,其中上述微处理器响应一第一使用者程序指令,而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误。 | ||
地址 | 中国台湾台北县 |