发明名称 反应腔部件及应用该反应腔部件的等离子体处理装置
摘要 本实用新型提供一种反应腔部件及应用该反应腔部件的等离子体处理装置。一种反应腔部件,应用于等离子体处理装置中,所述等离子体处理装置包括反应腔室和位于所述反应腔室内的基台,在所述反应腔室内在所述基台的外围沿径向依次设置有边缘环和等离子体约束装置,所述反应腔室内还设置一位于所述等离子体约束装置下方的排气端,用于将所述反应腔室内的气体从所述排气端排出,所述反应腔部件沿所述边缘环的外围设置,且所述反应腔部件至少部分覆盖所述等离子体约束装置的朝向所述反应腔室内部的表面。该反应腔部件增强了工作过程中对等离子体约束装置的保护,减少了对等离子体约束装置的损坏,降低了生产成本而且提高了被处理基片良率。
申请公布号 CN201681788U 申请公布日期 2010.12.22
申请号 CN201020151272.9 申请日期 2010.04.02
申请人 中微半导体设备(上海)有限公司 发明人 倪图强;徐朝阳;周旭升
分类号 H01J37/02(2006.01)I;H01J37/32(2006.01)I 主分类号 H01J37/02(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 逯长明;王宝筠
主权项 一种反应腔部件,应用于等离子体处理装置中,所述等离子体处理装置包括反应腔室和位于所述反应腔室内的基台,在所述反应腔室内在所述基台的外围沿径向依次设置有边缘环和等离子体约束装置,所述反应腔室内还设置一位于所述等离子体约束装置下方的排气端,用于将所述反应腔室内的气体从所述排气端排出,其特征在于,所述反应腔部件沿所述边缘环的外围设置,且所述反应腔部件至少部分覆盖所述等离子体约束装置的朝向所述反应腔室内部的表面。
地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号