发明名称 | 集成电路芯片测试机 | ||
摘要 | 1.外观设计产品名称:集成电路芯片测试机。2.外观设计产品用途:用于集成电路芯片测试。3.外观设计的设计要点:主视图中的测试载板和压紧启板机构;左视图和右视图中的与支架连接的螺孔和防静电环插座;后视图中的两个把手;俯视图中的散热板和天窗以及天窗上的LOGO;仰视图中的脚垫和LOGO。4.指定立体图用于出版专利公报。5.请求保护色彩。 | ||
申请公布号 | CN301409411S | 申请公布日期 | 2010.12.15 |
申请号 | CN201030212360.0 | 申请日期 | 2010.06.23 |
申请人 | 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司 | 发明人 | 侯海平 |
分类号 | 10-05 | 主分类号 | 10-05 |
代理机构 | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人 | 王来佳 |
主权项 | |||
地址 | 300384 天津市南开区华苑产业园区海泰绿色产业基地M8座3门3层 |