发明名称 伺服校正记号检测电路及检测伺服校正记号的方法
摘要 本发明提供一种伺服校正记号检测电路,用于一光驱。该伺服校正记号检测电路包括一相加处理器,一截剪电压产生器,以及一比较器。该相加处理器将自一内侧轨道与一外侧轨道反射的射频信号的强度相加,以得到一第一信号。该截剪电压产生器产生一截剪电压。该比较器比较该第一信号与该截剪电压,以产生一第二信号。其中该内侧轨道与该外侧轨道相邻,该第二信号指示记录在该内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在该外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。本发明提供的检测伺服校正记号的方法和检测电路可以决定伺服校正记号的位置,依据伺服校正记号进行光盘的倾斜平衡。
申请公布号 CN101083092B 申请公布日期 2010.12.01
申请号 CN200710105488.4 申请日期 2007.06.01
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 蔡鸿杰;林郁轩;谢享季
分类号 G11B7/095(2006.01)I 主分类号 G11B7/095(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 任默闻
主权项 一种伺服校正记号检测电路,用于一光驱,该伺服校正记号检测电路包括:一相加处理器,将自一内侧轨道与一外侧轨道反射的射频信号的强度相加,以得到一第一信号;一截剪电压产生器,用以产生一截剪电压;以及一比较器,比较所述的第一信号与所述的截剪电压,以产生一第二信号;其中所述的内侧轨道与所述的外侧轨道相邻,所述的第二信号指示记录在所述的内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在所述的外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。
地址 中国台湾新竹科学工业园区