| 发明名称 |
METHODS FOR MEASUREMENT AND CHARACTERIZATION OF INTERFEROMETRIC MODULATORS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP2252899(A2) |
申请公布日期 |
2010.11.24 |
| 申请号 |
EP20090739303 |
申请日期 |
2009.02.05 |
| 申请人 |
QUALCOMM MEMS TECHNOLOGIES, INC. |
发明人 |
GOVIL, ALOK |
| 分类号 |
B81C99/00;G01R19/00;G01R27/08 |
主分类号 |
B81C99/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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