发明名称 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 A formation of a gate electrode provided over an oxide semiconductor layer of a thin film transistor is performed together with a patterning of the oxide semiconductor layer.
申请公布号 US2010279474(A1) 申请公布日期 2010.11.04
申请号 US20100768205 申请日期 2010.04.27
申请人 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. 发明人 AKIMOTO KENGO;KAWAE DAISUKE
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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