| 主权项 |
一种厚度量测装置，适于量测一待测物的厚度，该厚度量测装置包括：一平台，适于承载该待测物；一顶板，配置于该平台之一量测区上方；一光学模组，配置于该平台下方，且包括：一光源，适于提供一光束；一感光元件，与该光源相对，且适于接收该光束；以及一遮光模组，可移动地配置于该平台与该光学模组之间，该遮光模组适于沿一预定方向移动，且该遮光模组适于遮蔽至少部分该光束。如申请专利范围第1项所述之厚度量测装置，其中该顶板可移动地配置于该平台之该量测区上方，且与该遮光模组连动。如申请专利范围第2项所述之厚度量测装置，其中该遮光模组包括：一遮光板，适于遮蔽至少部分该光束；以及一连接杆，连接于该遮光板与该顶板之间。如申请专利范围第1项所述之厚度量测装置，其中该顶板固定配置于该平台之量测区上方。如申请专利范围第4项所述之厚度量测装置，其中该遮光模组包括：一遮光板，适于遮蔽至少部分该光束；以及一连接杆，与该遮光板连接。如申请专利范围第3项或第5项所述之厚度量测装置，其中该遮光模组更包括一驱动元件，连接该连接杆，以驱使该连接杆移动。如申请专利范围第6项所述之厚度量测装置，其中该驱动元件包括一电磁致动器。如申请专利范围第1项所述之厚度量测装置，其中该光源包括一雷射光源。如申请专利范围第1项所述之厚度量测装置，更包括一传送模组，配置于该平台旁，以传送该待测物。如申请专利范围第9项所述之厚度量测装置，更包括一传送模组，该传送模组的一部分配置于该平台旁，另一部分配置于该量测区旁，以传送该待测物。如申请专利范围第9或10项所述之厚度量测装置，更包括：一侦测元件，配置于该平台上方，且位于该量测区旁，该侦测元件适于侦测该待测物是否进入该量测区；以及一控制模组，电性连接该侦测元件、该传送模组与该遮光模组，以于该待测物进入该量测区时控制该传送模组与该遮光模组。 |
