发明名称 DIFFERENTIAL SIGNAL PROBING SYSTEM
摘要 A probe measurement system comprises a probe with a linear array of probe tips enabling a single probe to be used when probing a test structure with a differential signal
申请公布号 US2010264948(A1) 申请公布日期 2010.10.21
申请号 US20100816648 申请日期 2010.06.16
申请人 CASCADE MICROTECH, INC. 发明人 STRID ERIC;CAMPBELL RICHARD
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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