发明名称 物理量测定装置
摘要 本发明的目的是提供一种物理量测定装置,使用振子(1)、激励该振子(1)进行驱动振动的自激振荡电路(12A)、以及将所述振子(1)的输出信号输出用的检测电路,依据输出信号进行物理量测定,自激振荡电路(12A)具备电流/电压转换器(3)与低通滤波器(25)。检测电路具备将振子的输出信号放大的电荷放大电路,至少电流/电压转换器与电荷放大电路形成于单片IC。
申请公布号 CN1764823B 申请公布日期 2010.10.13
申请号 CN200580000119.8 申请日期 2005.01.19
申请人 精工爱普生株式会社;日本精密电路株式会社 发明人 横井昭二;小林祥宏;高桥正行
分类号 G01C19/56(2006.01)I 主分类号 G01C19/56(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 张鑫
主权项 一种物理量测定装置,其特征在于,使用振子、激励该振子进行驱动振动的自激振荡电路、以及将来自所述振子的检测信号输出用的检测电路,并依据所述检测信号进行物理量测定,其中所述自激振荡电路具备电流/电压转换器与低通滤波器,所述检测电路具备将来自所述振子的输出信号放大的电荷放大电路,所述电流/电压转换器具备电阻器,所述低通滤波器具备电阻器与电容器,所述电荷放大电路具备电容器,至少所述低通滤波器、所述电流/电压转换器及所述电荷放大电路形成于单片IC,所述低通滤波器的放大倍数相对于1/(R1·C1)的比例系数为0.9倍以上、且1.1倍以下,其中,C1是所述低通滤波器的所述电容器的电容量,R1是所述低通滤波器的所述电阻器的电阻值。
地址 日本东京