| 发明名称 | 一种射频测试装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及通信测试领域，为了解决现有技术中需要为每次测试布置特殊的测试环境和仪器，操作复杂、成本高的问题提供了一种射频测试装置及方法，其中装置包括复数个开关阵列：用于根据射频测试指令，导通测试单元；所述测试单元：用于对待测设备进行测试。本发明的实施例的有益效果在于，通过开关阵列可以灵活的配置测试项目，实现了多个功能模块的复用，节约了成本，并且降低了每次测试时需要重新布线等操作的难度。 | ||
| 申请公布号 | CN101854644A | 申请公布日期 | 2010.10.06 |
| 申请号 | CN200910081411.7 | 申请日期 | 2009.04.03 |
| 申请人 | 工业和信息化部电信传输研究所 | 发明人 | 李莉莉;张玉凤;秦岩 |
| 分类号 | H04W24/00(2009.01)I;H04B17/00(2006.01)I | 主分类号 | H04W24/00(2009.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 任默闻 |
| 主权项 | 一种射频测试装置，其特征在于该装置包括：复数个开关阵列：用于根据射频测试指令，导通测试单元；所述测试单元：用于对待测设备进行测试。 | ||
| 地址 | 100045 北京市西城区月坛南街11号 | ||