发明名称 STATION D'ESSAI PERMETTANT DE TESTER UN COURANT DE FUITE À TRAVERS LE BOÎTIER ISOLANT DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES DE PUISSANCE, ET PROCÉDÉ CORRESPONDANT
摘要 L'invention porte sur une station d'essai (6) permettant de tester un courant de fuite à travers le boîtier isolant (42) de composants électroniques de puissance (3), ladite station d'essai comprenant : des premières parties de contact (36) pour appliquer une première tension d'essai sur une ou plusieurs broches (40) desdits composants testés, des secondes parties de contact (24, 37, 370, 25, 26) pour appliquer une seconde tension d'essai sur plusieurs faces externes dudit boîtier isolant desdits composants testés. La station d'essai est caractérisée par le fait que lesdites secondes parties de contact sont agencées pour entrer en contact avec plusieurs faces mutuellement orthogonales desdits composants électroniques de puissance (3).
申请公布号 MA31786(B1) 申请公布日期 2010.10.01
申请号 MA20100032787 申请日期 2010.04.23
申请人 ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA 发明人 CRETENET, DAVY;CHARPIE, MICHEL
分类号 G01R31/12;G01R31/02;G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/12 主分类号 G01R31/12
代理机构 代理人
主权项
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