| 发明名称 | 分析工具及其制造方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种分析工具，其包括：基板(10)；第一电极(14)，其形成于基板(10)上，且包含工作电极(14A)；第二电极(15)，其形成于基板(10)上，且包含对电极(15A)；和第一限制元件(11)，其用于限制工作电极(14A)中的与试样接触的接触面积。分析工具具有第二限制元件(18、19)，该第二限制元件(18、19)用于限制工作电极(14A)及对电极(15A)中至少一方上的进行电子授受的有效面积。 | ||
| 申请公布号 | CN101842697A | 申请公布日期 | 2010.09.22 |
| 申请号 | CN200880113705.7 | 申请日期 | 2008.10.31 |
| 申请人 | 爱科来株式会社 | 发明人 | 藤井朋广;日下靖英 |
| 分类号 | G01N27/327(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/327(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 李伟;王轶 |
| 主权项 | 一种分析工具，包括：基板；第一电极，其形成于上述基板上，且包含工作电极；第二电极，其形成于上述基板上，且包含对电极；和第一限制元件，其用于限制上述工作电极上的与试样接触的接触面积，其中，具有第二限制元件，该第二限制元件用于限制上述工作电极及上述对电极中至少一方上的进行电子授受的有效面积。 | ||
| 地址 | 日本京都府 | ||