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发明名称 Test device in a nand type flash memory device and method of testing using the same
摘要
申请公布号 KR100983415(B1) 申请公布日期 2010.09.20
申请号 KR20030100157 申请日期 2003.12.30
申请人 发明人
分类号 H01L27/115 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人
主权项
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