| 发明名称 |
METHOD OF TESTING ELECTRONIC COMPONENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20100101186(A) |
申请公布日期 |
2010.09.16 |
| 申请号 |
KR20107019151 |
申请日期 |
2003.08.19 |
| 申请人 |
AEHR TEST SYSTEMS |
发明人 |
MALATHONG SEANG P.;HEMMERLING MARTIN A. |
| 分类号 |
G01R1/20;H01R33/76;G01R1/04;G01R31/26;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R1/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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