集成电路版图的器件属性计算方法

摘要

一种集成电路版图的器件属性计算方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的网表提取及版图与原理图的一致性检查领域。主要应用于网表提取工具、版图与原理图的一致性检查工具等。本发明目的在于：提供一种集成电路版图的器件属性计算方法，能够快速计算集成电路版图中器件的属性，为版图与原理图的一致性检查提供支持，同时减少资源的占用。其实现过程主要包括：将基于图形的版图数据结构转化为基于边的数据结构；采用扫描线算法，只对含有图形顶点的位置进行扫描；在扫描线上根据边的状态计算图形的属性，而无需恢复垂直边；利用图形的属性得到器件的属性。

主权项

集成电路版图的器件属性计算方法，核心数据结构为基于非垂直边的集成电路版图数据结构，其特征在于包括以下几个步骤：①采用扫描线算法只对非垂直边的端点进行扫描，对边与边的交点不进行扫描；②确定非垂直边的状态，包括边相对于边所属的图形的状态、边相对于扫描线的状态、变动边奇偶状态；③在每条扫描线上，构造一种只保留每个图形第奇数条变动边的组合以确定参与单个图形属性计算的边，构造一种只保留每个图形最近一条非垂直边的组合以确定参与两个图形属性计算的边；④对参与计算的非垂直边，利用边的状态计算边所在图形的属性，包括单个图形的面积、周长、弯度，两个图形的公共面积、重合周长、一图形位于另一图形内部的周长、一图形位于另一图形外部的周长；⑤利用步骤④得到的图形的属性计算图形所在器件的属性。