发明名称 Semiconductor Memory Apparatus and Test Circuit Therefor
摘要
申请公布号 KR100980415(B1) 申请公布日期 2010.09.07
申请号 KR20080118706 申请日期 2008.11.27
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C7/10 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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