发明名称 | 测试表面的光学检验 | ||
摘要 | 一方面,根据确定的强度变化,通过改变分辨率减小了存储从比如Parousiameter的散射计(100)获得的图像强度数据所需的数据量,强度数据以此分辨率在网格的不同区域中使用。另一方面,散射计设置有非球面镜(170,900,1000),用于对测试样品(180)成像,以校正由于反射镜相对于测试样品的偏心放置所引入的失真。另一方面,光学表面检验装置在测试表面(1420)和照亮的图形网格(1410)间使用了辅助透镜(1440),以将图形网格(1610)投影在测试表面上。相机(1450)聚焦在作为实像的测试表面的网格上。 | ||
申请公布号 | CN101036045B | 申请公布日期 | 2010.09.01 |
申请号 | CN200580034172.X | 申请日期 | 2005.10.05 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | 斯皮克·瓦德曼 |
分类号 | G01N21/47(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/47(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 王英 |
主权项 | 一种计算机执行的处理散射测量数据的方法,包括:将光束(140)导向散射计(100)中的目标材料(180);在光(120)从所述目标材料反射后,测量其强度,其中在穿过所述散射计屏(130)上所提供的视场中的点的网格上测量所述强度,以获得表示穿过所述视场的强度的数据;确定穿过所述视场的强度的变化;以及根据所确定的强度变化,定义至少一个函数,该函数通过改变分辨率描述了穿过所述视场的所述光强度分布,其中使得所述强度数据以所述分辨率在所述网格的不同区域中使用;其中,每个所述不同区域包括至少一个网格点。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |