发明名称 |
筛查系统及方法 |
摘要 |
本发明涉及筛查系统及方法。一种操作筛查系统的方法包括:将电磁场施加到至少部分地由电磁屏蔽包围的区域中的样本并且测量传感器的输出,其中该输出由电磁场和该样本的相互作用而引起。该方法还包括从该区域中的样本逐出示踪粒子,收集示踪粒子,以及识别示踪粒子。该方法进一步包括基于测量的传感器输出和识别的示踪粒子评估该样本与物质之间的关联。 |
申请公布号 |
CN101813787A |
申请公布日期 |
2010.08.25 |
申请号 |
CN201010148955.3 |
申请日期 |
2010.02.25 |
申请人 |
莫弗探测公司 |
发明人 |
C·W·克劳利;H·布德里斯;E·芒努松 |
分类号 |
G01V3/00(2006.01)I;G01V3/11(2006.01)I;G01V3/14(2006.01)I |
主分类号 |
G01V3/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
李娜;李家麟 |
主权项 |
一种操作筛查系统的方法,所述方法包括:将电磁场施加到样本,该样本处于至少部分地由电磁屏蔽包围的区域中;测量传感器的输出,该输出由电磁场和该样本的相互作用而引起;从该区域中的该样本逐出示踪粒子;收集示踪粒子;识别示踪粒子;以及基于测量的传感器输出和识别的示踪粒子评估该样本与物质之间的关联。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |