| 发明名称 | 半导体测试仪测试头的界面板 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体测试仪测试头的界面板，包括测试头功能板、测试触点，测试触点设置于功能板的表面；所述测试触点的排列形状与探针台上弹簧针的排列形状一致；测试触点阵列与探针台上弹簧针的阵列位置相同。本实用新型能够在不改造探针台的基础上使功能板上的测试触点的排列及位置与探针台上的弹簧针相匹配，从而使测试头功能板与探针台相匹配，达到节约改造费用的目的。 | ||
| 申请公布号 | CN201548560U | 申请公布日期 | 2010.08.11 |
| 申请号 | CN200920074722.6 | 申请日期 | 2009.11.26 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 桑浚之;辛吉升 |
| 分类号 | G01R1/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 张骥 |
| 主权项 | 一种半导体测试仪测试头的界面板，包括测试头功能板、测试触点，测试触点设置于功能板的表面；其特征在于：所述测试触点的排列形状与探针台上弹簧针的排列形状一致；测试触点阵列与探针台上弹簧针的阵列位置相同。 | ||
| 地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 | ||