发明名称 门极和阴极间采用玻璃钝化保护的可控硅器件
摘要 门极和阴极间采用玻璃钝化保护的可控硅器件,属于微电子技术领域。包括N-衬底层(1)、P+扩散区(2)、N+扩散区(4)、台面凹槽玻璃钝化层(5)、门极(G)、阴极(T1)和阳极(T2),门极(G)和阴极(T1)均位于可控硅器件同一侧的表面上,所述门极(G)和阴极(T1)一侧的表面上设置有表面玻璃钝化层(7)。通过湿法刻蚀全面去除氧化层,并烧结表面玻璃钝化层,消除了而因机械应力而导致硅片龟裂和破碎的现象,简化了工艺,降低了生产成本,提高了器件的可靠性,具有明显的技术先进性、显著的经济性和极强的实用性。
申请公布号 CN201549511U 申请公布日期 2010.08.11
申请号 CN200920267065.7 申请日期 2009.11.16
申请人 武汉光谷微电子股份有限公司 发明人 中原基
分类号 H01L29/744(2006.01)I 主分类号 H01L29/744(2006.01)I
代理机构 武汉荆楚联合知识产权代理有限公司 42215 代理人 王健
主权项 门极和阴极间采用玻璃钝化保护的可控硅器件,包括N-衬底层(1)、P+扩散区(2)、N+扩散区(4)、台面凹槽玻璃钝化层(5)、门极(G)、阴极(T1)和阳极(T2),门极(G)和阴极(T1)均位于可控硅器件同一侧的表面上,其特征在于;所述门极(G)和阴极(T1)一侧的表面上设置有表面玻璃钝化层(7)。
地址 430074 湖北省武汉市东湖高新技术开发区珞喻路光谷中心花园A栋22座