发明名称 |
一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法 |
摘要 |
本发明涉及一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法,属于光电技术检测技术领域。包括偏振片A、偏振片B、二元光栅、凸透镜和CCD探测器;将偏振片A覆盖二元光栅的一部分,然后沿光路方向依次固定偏振片A、二元光栅、凸透镜、偏振片B和CCD探测器;平行入射光照射在二元光栅上,平行入射光透过二元光栅在CCD探测器成像,形成衍射条纹。本发明易于实际应用,装置简单,能够高精度,对入射单色光无选择性的偏振态测量方法;本发明相对斯托克斯参量法只用到偏振片,且不需要旋转此偏振片,因此在实验上装置简单,且具有高的实验精度;整个实验装置中无波长选择装置,即任何单色光入射均可测量其偏振态;此装置不需校正即可使用。 |
申请公布号 |
CN101793556A |
申请公布日期 |
2010.08.04 |
申请号 |
CN201010144119.8 |
申请日期 |
2010.04.08 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
白云峰;李艳秋;董娟;刘晓琳 |
分类号 |
G01J3/447(2006.01)I;G01J3/12(2006.01)I;G01N21/21(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/447(2006.01)I |
代理机构 |
北京理工大学专利中心 11120 |
代理人 |
张利萍 |
主权项 |
一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置,其特征在于:包括偏振片(1)、二元光栅(3)、凸透镜(4)和CCD探测器(5);其中二元光栅(3)的缝宽度都相等,且不限制光栅狭缝个数;光栅距透镜距离可根据实际情况而定;沿光路方向依次为偏振片(1)、二元光栅(3)、凸透镜(4)和CCD探测器(5)。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |